Partenaires

Ce projet mobilise des acteurs de renommée mondiale dans le domaine de la CEM au niveau composant, équipement, système. Le consortium est réparti de façon homogène entre grands groupes, PME et centres de recherche de Midi-Pyrénées et Aquitaine et de compétences spécifiques issues d’autres régions pour les domaines de la mesure champ proche, des sondes et de l’extraction de modèles.

Les grands groupes :
AIRBUS, Thales Alénia Space, ASTRIUM, SIEMENS-VDO (Toulouse), ATMEL (Nantes), THALES (Pessac, Le Haillan)

Les PME :
HUMIREL, NEXIO (Toulouse), FLOMERICS (Orsay)

Les Centres de recherche et des académiques :
ESEO (Angers), CNES, EADS-IW, ONERA (Toulouse), IRSEEM (ESIGELEC Rouen), LATTIS (INSA Toulouse), LATTIS IUT Tarbes

ONERA LATTIS Thales Alenia Space Nexio EADS Astrium EADS CNES Airbus IUT Tarbes Humirel Siemens VDO THALES ATMEL ESEO Flrmerics IRSEEM

Rôle des partenaires

Industriels concepteurs de systèmes embarqués : AIRBUS, Thales Alénia Space, ASTRIUM, SIEMENS-VDO, THALES
Apport : Expression du besoin industriel dans le domaine aéronautique, spatial et automobile. Définition de modèles

Industriels intégrateurs de technologie : ATMEL, HUMIREL
Apport: Technique de mesures CEM, modélisation des circuits intégrés, modèle équivalent, contraintes d’installation au niveau application

Editeur de logiciels : FLOMERICS
Apport: Solution logicielle pour la plateforme, support technique, développement et intégration de modèle spécifique

Société de service : NEXIO
Apport: Mise en place et gestion de la plateforme, Expérience dans le déploiement, le support et la formation aux outils, mesures EMC, et prestations de services CEM.

Centres de recherche et académiques :

ESEO : Apport: susceptibilité CEM des composants. Fourniture d’équipements (scan champ proche)
CNES : Apport: expertise sur étude antérieure en immunité composant, modèles équivalents
EADS-IW France : Apport: modélisation numérique, macromodelling, immunité composant. caractérisation champ proche..
ONERA : Apport : codes et méthodes numériques, capitalisation de données et format d’échange
IRSEEM (ESIGELEC) : Apport: Expertise mesures champs proches, extraction de modèles
LATTIS (INSA), LATTIS-IUT-GEI : Apport : CEM des composants, méthodologie de création de modèles.